数显立式光学计JDG-S2

数显立式光学计JDG-S2是一种采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。立式光学计主要用于五等精度量块，一级精度柱型规及各种圆柱形，球形，线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量，对被测件作微小位移测量。JDG-S2立式光学计也可用来控制精密零件的加工。 

技术参数 

测量范围           0-180 mm

示值范围           0-10 mm

最小示值           0.0001 mm

测 量 力           (2±0.2) N

光学计管配合尺寸   Φ28mm

测量杆外径         Φ6mm

示值误差           0-0.2mm比较测量时：±0.00025mm 

 0-10mm 直接测量时：±0.0005mm

示值变动性         ≤0.0001mm

仪器体积           250×150×440 mm

仪器重量           18 kg

标准配件           可调带筋园台、可调园平台、平面测帽、平面测帽、小球面测帽、刃形测帽